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意法半导体上市省略测试工序的加速度传感器
发布日期:2008年04月20日 作者:不详 人气:68 查看:[大字体 中字体 小字体]

意法半导体(STMicroelectronics)上市了可省略测试工序,面向消费类电子产品的加速度传感器。厂商无需调整灵敏度和进行零g级别的校正即可使用。

上市的加速度传感器有2轴产品“LIS244ALH”和3轴产品“LIS344ALH”两种。批量购买时的价格分别约为1.3美元和1.6美元。外形尺寸均为4mm×4mm×1.5mm,采用16引脚的LGA封装。能够检测±2g或者±6g范围内的加速度。工作温度范围为-40~+85,耐冲击性为1g。主要面向以手机和多媒体播放器为主的消费类电子产品。

加速度传感器在安装之前,一般电子产品厂商要对其实施校正工序,而此次的传感器在ST进行校正后供货。另外还内置有自我检测功能,用于检测MEMS传感器部和信号处理电路能否在保证指标内准确工作。ST希望通过省去一直是电子产品厂商成本增加原因的测试工序,进一步扩大在消费类产品领域的接单量。

(出处:转载)


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